masena spektrometrija sekundarnih iona

polje: fizika

grana: fizika kondenzirane tvari

projekt: Izgradnja, odabir i usuglašavanje hrvatskoga nazivlja u fizici


Definicija

spektrometrija u kojoj se s pomoću analize iona izbačenih iz tankoga sloja uzorka bombardirana snopom čestica omogućuje kemijska analiza uzorka

Radna definicija

spektrometrija u kojoj se s pomoću analize iona izbačenih iz tankoga sloja uzorka bombardirana snopom čestica omogućuje kemijska analiza uzorka

Istovrijednice (prijevodi)
Engleski:
secondary ion mass spectrometry Kratice: SIMS
Gramatičke informacije

Rod: nema

Vrsta riječi: višerječni naziv

Informacije
  • Broj: nema
  • 0 komentara
  • 0 lajkova
  • Dodano: 03.10.2011
  • Ažurirano: 26.08.2015
Natrag na pretragu Početna stranica